OTSUKA大冢电子 RETS-100nx 型迟滞测量装置给用户带来了独特的光谱仪，这样可以进行高精度测量。因为其多波长测量，它能获得更多透射率信息，从而实现高精度测量。为了取得这种精度，OTSUKA给这个产品配了高性能多通道光谱仪，这样大约可以收集500个波长的信息，差不多是其他公司产品的50倍。这款迟滞测量装置测量范围宽广，延迟范围从0到60,000纳米不等。还有个好处是理解延迟波长色散形状，这样能更精准地分析样品的超双折射薄膜。而且，这个迟滞测量装置还能进行高延迟多层测量。不必剥离薄膜就可以无损地对各种层压薄膜进行测量，真的很方便。如果你想轻松重复进行测量就算是样品位置不对也是可以的。你可以重新定位样品10次，然后比较有无角度校正情况下的结果，这样就能确保精度了。这个软件也非常易用，让测量和处理时间显著缩短。这个设备可以用来测量胶片、光学材料、偏光片和液晶盒等不同类型的样品。具体来讲包括延迟、慢轴、Rth和三维折射率等项目。如果是偏光片的话还有吸收轴、偏振度、消光比等参数可以测量到。液晶盒方面有细胞间隙、预倾角和扭转角等数据可以获取。延迟测量范围达到0至60,000纳米，重复精度也很优秀。细胞间隙重复性很好。轴检测重复性也很不错。而且探测器采用多通道光谱仪还有光源是100瓦卤素灯。数据处理部分是个人电脑和显示器，舞台尺寸也有标准规格。当然也可以根据需求选配超高延迟测量、多层测量、轴角校正功能、自动XY平台等选项。大冢电子一直把满足客户需求放在第一位，这次推出这个RETS-100nx型迟滞测量装置把他们对技术创新与高品质的追求展现得淋漓尽致。